場景應(yīng)用：為測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，適用電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料等各種材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應(yīng)性。在研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計和工藝缺陷，在有些情況下也可用于環(huán)境應(yīng)力篩選，剔除產(chǎn)品的早期故障。試驗的嚴(yán)苛程度取決于高低溫范圍，駐留時間，溫度轉(zhuǎn)換時間，循環(huán)數(shù)等

To test the degree to which a material structure or composite material can withstand continuous environments of high and low temperatures in an instant, it is suitable for the adaptability of various materials such as electricians, electronic products, semiconductors, electronic circuit boards, metal materials, etc. in rapidly changing temperature environments. During the development phase, it can be used to identify product design and process defects, and in some cases, it can also be used for environmental stress screening to eliminate early product failures. The severity of the test depends on the high and low temperature range, residence time, temperature conversion time, number of cycles

業(yè)參考標(biāo)準(zhǔn) The reference standards are as follows

GB11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件（溫度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗

GJB150.4A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗                                                                                  

借助于我們的HW-HC系列設(shè)備，可以實現(xiàn)從 -70 °C 到 +220 °C 的極快溫度變化。我們提供的解決方案有具有靜態(tài)試驗空間的阻尼熱沖擊試驗箱，包括用于三區(qū)試驗的環(huán)境溫度，或配裝移動提籃的經(jīng)典垂直兩區(qū)熱沖擊試驗箱。可以減少早期故障，提高產(chǎn)品的可靠性、可重復(fù)性、認(rèn)證性和時效性。

     智能負(fù)載調(diào)節(jié)，高低溫沖擊1000個循環(huán)不結(jié)霜，溫度恢復(fù)時間快，提高試驗效率，可做高低溫、常溫沖擊試驗。

三箱儲能式結(jié)構(gòu)設(shè)計，樣品無需移動，易于測試線纜連接，相對靜止，無任何機械沖擊。

產(chǎn)品可按試樣特點定制三箱（儲能式）、兩箱（提籃式）溫度沖擊箱。  

提供HW-HC系列產(chǎn)品目錄   Provide HW-HC series product catalog

客戶體驗上海夏威產(chǎn)品